Focused Ion Beam/Scanning Electron Microscope FEI Helios NanoLab 660 | CEITEC - výzkumné centrum
ZFE - Zentrum für Elektronenmikroskopie | Gekoppeltes Raster-Elektronen- und Raster-Ionen-Mikroskop (Quanta 3D FEG, FEI, The Netherlands) :: Forschungsinfrastruktur